Chroma ATE Inc.

Comunicato Stampa
Comunicato Stampa
Chroma lancia la nuovissima soluzione per test su semiconduttori
2017/04/28

Chroma ATE Inc., fornitore leader a livello planetario di strumenti di misura e prova di precisione, sistemi di test automatizzati, Intelligent Manufacturing System (IMS) e soluzioni pronte all'uso di automazione e per test, ha lanciato di recente la nuovissima soluzione per test su semiconduttori per il mercato IC IoT.

Sviluppato di recente quest'anno, la scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010 fornisce funzioni di test automatizzato basate sull'architettura PXIe per eccellere nelle elevate richieste di test PXI. Per soddisfare i canali IC più piccoli e le funzioni di test sempre più complesse, in particolare su IoT e IC per elettronica automobilistica, l'architettura PXI/PXIe nel test sui semiconduttori offre un vantaggio ineguagliabile per quanto concerne diversità e versatilità, che include MCU, MEMS, RF IC e PMIC. Può anche essere portato a Chroma 3380D (256 canali) e Chroma 3380P (512 canali) per la produzione di massa, in quanto hanno un'elevata somiglianza nel software e nell'hardware.

Scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010
▲ Scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010

L’handler SLT Tri-Temperature Chroma 3260 è dotato di funzione (Dynamic Temperature Control) grazie alla tecnologia Nitro TEC, in grado di supportare un'eccellente gamma di prestazioni di temperatura da -40°C a 125°C con precisione di +/- 1°C. È adatto per test in parallelo su schede con moduli multipli e le prese di prova integrate possono ospitare vari tipi di pacchetti (QFP, TQFP, μBGA, PGA e CSP). Chroma 3260 (Tri-Temp.) può cambiare rapidamente il kit sostiuendo il DUT (Device Under Test) per ridurre significativamente i tempi di inattività e migliorare l'efficienza. Le applicazioni comprendono i componenti IC per IoV (Internet of Vehicle) e il settore di cloud computing.


▲ Handler SLT Tri-Temperature Chroma 3260

L’handler Single Site da tavolo Chroma 3111 è stato progettato per test di funzionalità del sistema, in particolare durante la fase sperimentale di ingegneristica. Offre capacità di test sui terminali elettrici per supportare vari formati di packaging di wafer, compresi tra 5x5 mm e 45x45 mm. Chroma 3111 è la soluzione ideale per ridurre al minimo i tempi e i costi durante il test tecnici, a causa delle dimensioni ridotte (60 cm2).


▲ Handler Single Site da tavolo Chroma 3111 

La soluzione di test sui semiconduttori di Chroma offre anche una serie di suite software per diverse applicazioni di test.