Chroma ATE Inc.

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Chroma presenta la sua nuovissima soluzione per i test sui semiconduttori per la connettività IoT alla SEMICON Taiwan
2017/08/29

Chroma ATE Inc., fornitore leader a livello planetario di strumenti di misura e prova di precisione, sistemi di test automatici, Intelligent Manufacturing System (IMS) e soluzioni pronte all'uso di automazione e per test, presenterà la sua nuovissima soluzione per test su semiconduttori per il mercato IC IoT in settembre alla SEMICON Taiwan.

Chroma 3680 è un sistema di test SoC avanzato con frequenza di raccolta dati fino a 1 Gbps. Chroma 3680 è in grado di effettuare test in parallelo su svariati chip per soddisfare i requisiti di test IC digitale e analogico, con applicazioni che includono MCU, audio digitale, TV digitale, decoder, DSP, processori di rete, FPGA (Field Programmable Gate Array) e dispositivi elettronici di consumo.

Sistema di Test SoC Avanzato Chroma 3680
▲ Sistema di Test SoC Avanzato Chroma 3680

Sviluppata quest'anno, la Scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010 fornisce funzioni di test automatico basate sull'architettura PXIe per eccellere nelle pressanti richieste dei test PXI. Per soddisfare i canali IC più piccoli e le funzioni di test sempre più complesse, in particolare su IoT e IC per elettronica automobilistica, l'architettura PXI/PXIe nel test sui semiconduttori offre un vantaggio ineguagliabile per quanto concerne diversità e versatilità, che include MCU, MEMS, RF IC e PMIC. Si può utilizzare anche sul Chroma 3380D (256 canali) e sul Chroma 3380P (512 canali) per la produzione di massa.

Scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010
▲ Scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010

Il Tester di Funzione con Sistema Automatico Chroma 3260 è adatto ai test in parallelo sul livello di PCB per attrezzatura per la produzione di massa multipla che possono ospitare vari tipi di pacchetti (QFP, TQFP, μBGA, PGA e CSP) con controllo termico attivo a temperatura elevata che va dai 50°C ai 125°C per testare le prese di prova da 1 a 6. Chroma ha anche un Tri-temperature SLT Handler che opera con un'eccellente gamma di prestazioni di temperatura dai -40°C ai 125°C. Le applicazioni comprendono componenti IC per IoV (Internet of Vehicle) e il settore del cloud computing.

Tester di Funzione con Sistema Automatico Chroma 3260
▲ Tester di Funzione con Sistema Automatico Chroma 3260

 

La soluzione di test sui semiconduttori di Chroma offre anche una serie di suite software per diverse applicazioni di test.

La SEMICON Taiwan si terrà dal 13 al 15 settembre 2017 e la Chroma ATE Inc. mostrerà la sua nuovissima soluzione per i test sui semiconduttori al Padiglione 1 del Centro Fiere Nangang (stand n. 1616). Vi invitiamo a provare i nuovi trend nel campo del test e della misurazione e ci auguriamo di potervi incontrare a questo evento annuale.