Chroma ATE Inc.

Comunicato Stampa
Comunicato Stampa
Chroma lancia nuove soluzioni di controllo al SEMICON China per strappare nuove opportunità di business nel campo dei chip IoT
2018/03/05

Chroma ATE Inc., leader mondiale nella fornitura di apparecchiature per test di precisione e misurazione e soluzioni di test automatizzate a portata di mano, presenterà le suo nuove soluzioni di test per semiconduttori al SEMICON China in marzo per strappare nuove occasioni di business nel mercato dei chip elettronici per veicoli intelligenti e IoT.

Il Chroma 3680 è un sistema di test SoC avanzato, di alta precisione e ad elevate prestazioni dotato di 2048 canali I/O con trasferimento dati fino a 1 Gbps, 512 unità di prova in parallelo massime e una profondità di memoria dei dati di test di 512 MW per soddisfare i complessi requisiti di prova SoC al minimo costo. La sua applicazione comprende MCU, audio digitale, TV digitale, set-top box, DSP, processori di rete, FPGA (Field Programmable Gate Array) e dispositivi elettronici di consumo.

L’HDAVO (opzione audio video ad alta densità) è un’opzione del sistema di test SoC 3680 che presenta 8 moduli di generatori di forme d’onda arbitrati (AWG) e convertitori digitali (DGT). La cadenza di campionamento arriva fino a 400 Msps per ciascun AWG e 250 Msps per ciascun DGT. I vantaggi delle specifiche superiori, dei costi ridotti e della multifunzionalità lo rendono adatto a un’ampia gamma di test di segnali misti quali banda base, video, audio, grafica, STB e DTV standard.

Il kit software CRISPro appositamente sviluppato per il sistema di test 3680 consente di modificare rapidamente e facilmente i programmi di test tramite un’interfaccia grafica utente (GUI). La funzione di test simultaneo supportata non solo riduce il tempo di test ma accelera anche il rendimento della velocità di produzione.

 

Chroma 3680 

Sistema di test SoC avanzato Chroma 3680

La scheda I/O digitale PXIe Chroma 33010 fornisce funzioni di test automatizzato basate sull'architettura PXIe per soddisfare la domanda in arrivo di test PXI. Per soddisfare i canali IC più piccoli e le funzioni di test sempre più complesse, in particolare su IoT e IC per elettronica automobilistica, l'architettura PXI/PXIe nel test sui semiconduttori offre vantaggi certi per quanto concerne diversità e versatilità dell’applicazione, che include MCU, MEMS, RF IC e PMIC. Può anche essere portato a Chroma 3380D (256 canali), Chroma 3380P (512 canali) e Chroma 3380 (1280 canali) per la produzione di massa, in quanto hanno un'elevata compatibilità nel software e nell'hardware.

STE e PXI

Il sistema di test CC/RF in fibra ottica Chroma 3200L-6 principalmente impiegato per la rilevazione la corrente continua e la radiofrequenza di un analizzatore di spettro ottico (OSA) in scatola è dotato delle funzioni di pulizia e test automatizzati delle fibre ottiche, posizionamento visivo e scambio automatico delle fibre ottiche, posizionamento visivo delle sonde e controllo dei contatti. La ripetibilità di ispezione è fino a ± 40um. Con il supporto di una stazione singola per esperimenti di ingegneria e un'intera linea per la produzione di massa, il sistema di test aumenta la flessibilità di implementazione e riduce significativamente i costi di manodopera e perdita dei costi dei test.

 

Sistema di test DC/RF per fibra ottica Chroma 3200L-6

L'apparecchiatura di test sui semiconduttori Chroma integrata nel tester MP5800 RF ATE è in grado di coprire la gamma di test a 6 GHz e fornire ad una porta 4/8 RF una larghezza di banda di 120 MHz. La sua applicazione comprende WiFi, BT, GNSS/NB-IoT/LoRa, altri IC di connettività IoT e componenti RF (PA / LNA / convertitori, ecc.) per soddisfare i requisiti di una soluzione di test ATE RF / digitale (CP / FT / SLT) totale.

MP 5800RF  

                                                        Tester ATE RF MP5800

Il SEMICON China 2018 si terrà dal 14 al 16 marzo e la Chroma ATE Inc. mostrerà la sua nuovissima soluzione per i test sui semiconduttori al Shanghai New International Expo Center (SNIEC) (stand n. 3165). Gli ospiti sono invitati a scoprire i nuovi trend nel campo dei test e delle misurazioni.